Publikationsdetails

Zitat:	A. Daniel, N. Darowski, A. Forchel, J. Grenzer, U. Pietsch, J.P. Reithmaier, S. Rennon, "Grazing-incidence diffraction strain analysis of a laterally-modulated multiquantum well system produced by focused-ion-beam implantation" , in Applied Physics Letters, 2000, J. Grenzer, N. Darowski, U. Pietsch, A. Daniel, S. Rennon, J.P. Reithmaier, A. Forchel: Grazing-incidence diffraction strain analysis of a laterally-modulated multiquantum well system produced by focused-ion-beam implantation, Appl. Phys. Lett. 77, 4277-4279 (2000)
Original Titel:	Grazing-incidence diffraction strain analysis of a laterally-modulated multiquantum well system produced by focused-ion-beam implantation
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Applied Physics Letters
Erscheinungsjahr:	2000
Notiz zum Zitat:	J. Grenzer, N. Darowski, U. Pietsch, A. Daniel, S. Rennon, J.P. Reithmaier, A. Forchel: Grazing-incidence diffraction strain analysis of a laterally-modulated multiquantum well system produced by focused-ion-beam implantation, Appl. Phys. Lett. 77, 4277-4279 (2000)
DOI:	10.1063/1.1332410
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	A. Daniel, N. Darowski, A. Forchel, J. Grenzer, U. Pietsch, J.P. Reithmaier, S. Rennon
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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