Publikationsdetails

Zitat:	A. G. Touryanski, I. V. Pirshin, M. A. Rzaev, Friedrich Schäffler, Michael Mühlberger, "Two-wave X-ray optical diagnostics of GexSi1-x/Si modulation-doped heterostructures" , in Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures, Vol. 13, Nummer 2-4, Seite(n) 1063-1065, 3-2002, A.G. Touryanski, I.V. Pirshin, M.A. Rzaev, F. Schäffler, M. Mühlberger, Two-wave X-ray optical diagnostics of GexSi1-x/Si modulation-doped heterostructures, Physica E 13, 1063-1065 (2002).
Original Titel:	Two-wave X-ray optical diagnostics of GexSi1-x/Si modulation-doped heterostructures
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures
Volume:	13
Number:	2-4
Seitenreferenz:	1063-1065
Erscheinungsmonat:	3
Erscheinungsjahr:	2002
Notiz zum Zitat:	A.G. Touryanski, I.V. Pirshin, M.A. Rzaev, F. Schäffler, M. Mühlberger, Two-wave X-ray optical diagnostics of GexSi1-x/Si modulation-doped heterostructures, Physica E 13, 1063-1065 (2002).
Anzahl der Seiten:	3
DOI:	10.1016/S1386-9477(02)00303-X
Reichweite:	international
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	A. G. Touryanski, I. V. Pirshin, M. A. Rzaev, Friedrich Schäffler, Michael Mühlberger
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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