Ralf Rudersdorfer, Markus Ortner,
"Elektronisches Rauschen: Rauschparameter, -optimierung, -messtechnik und LNA-Design-Raffinessen (mit Beispielen) ? Teil I"
: Workshop-CD RadioTecC Transmit&Test Solutions 2010, 24.-25. November 2010, Seite(n) B2.2 1-B2.2 26, 2010
Original Titel:
Elektronisches Rauschen: Rauschparameter, -optimierung, -messtechnik und LNA-Design-Raffinessen (mit Beispielen) ? Teil I
Sprache des Titels:
Deutsch
Original Buchtitel:
Workshop-CD RadioTecC Transmit&Test Solutions 2010, 24.-25. November 2010
Original Kurzfassung:
Rauschen und rauschähnliche Signale stellen in vielen Fällen die Grenze zur Verarbeitung möglichst kleiner Signale dar ? denn die Störgröße Rauschen verfälscht das Nutzsignal bzw. mindert es qualitativ. Der Wunsch nach möglichst geringem Einfluss von Rauschen im Signalweg und dessen Minimierung trifft daher beinahe jeden Schaltungsentwickler.
Zu Beginn finden Definition und Bedeutung von Rauschgrößen anschauliche und nachvollziehbare Darstellung. Durch deren Kenntnis wird ihre Anwendung plausibel und in Folge die Thematik schrittweise bis hin zum aktuellen Stand der Rauschmesstechnik (wie auch ihrer Fehlerquellen) vertieft.
Teil I:
1) Definitionen: Rauschzahl, Rauschmaß und Rauschtemperatur ?
2) Kaskade rauschender Zweitore; durch Fehlanpassung verursachte Fehler bei der Kalkulation des Gesamtrauschverhaltens
3) Messmethoden und verfügbare Messmittel zur Rauschzahlbestimmung (Y-Factor-, Cold-Methode, Srms/Savg, Second-Stage Correction)
4) Fehlerquellen bei Rauschmessungen
Forschungs-