Publikationsdetails

Zitat:	Günther Bauer, P. Hamberger, Vaclav Holy, E. Kasper, E. Koppensteiner, ""Analysis of strain and mosaicity in a short-period Si9Ge6 superlattice by x-ray diffraction"" , 1994, ISSN: 0003-6951, E. Koppensteiner, P. Hamberger, G. Bauer, V. Holy, E. Kasper: "Analysis of strain and mosaicity in a short-period Si9Ge6 superlattice by x-ray diffraction", Appl. Phys. Lett. 64, 172 (1994), ISSN-Number 0003-6951
Original Titel:	"Analysis of strain and mosaicity in a short-period Si9Ge6 superlattice by x-ray diffraction"
Sprache des Titels:	Englisch
Englischer Titel:	Analysis of strain and mosaicity in a short-period Si9Ge6 superlattice by x-ray diffraction
Erscheinungsjahr:	1994
Notiz zum Zitat:	E. Koppensteiner, P. Hamberger, G. Bauer, V. Holy, E. Kasper: "Analysis of strain and mosaicity in a short-period Si9Ge6 superlattice by x-ray diffraction", Appl. Phys. Lett. 64, 172 (1994), ISSN-Number 0003-6951
ISSN:	0003-6951
DOI:	10.1063/1.111555
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Günther Bauer, P. Hamberger, Vaclav Holy, E. Kasper, E. Koppensteiner
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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