Publikationsdetails

Zitat:	W. Faschinger, G.J. Glanner, M.A. Herman, Helmut Sitter, "Evaluation of growth temperature, refractive index, and layer thickness of thin ZnTe, MnTe, and CdTe films by in situ visible laser interferometry" , in Applied Physics Letters, 1994, ISSN: 0003-6951, G.J. Glanner, H. Sitter, W. Faschinger, M.A. Herman: "Evaluation of growth temperature, refractive index, and layer thickness of thin ZnTe, MnTe, and CdTe films by in situ visible laser interferometry", Appl. Phys. Lett. 65, 998 (1994), ISSN-Number 0003-6951
Original Titel:	Evaluation of growth temperature, refractive index, and layer thickness of thin ZnTe, MnTe, and CdTe films by in situ visible laser interferometry
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Applied Physics Letters
Erscheinungsjahr:	1994
Notiz zum Zitat:	G.J. Glanner, H. Sitter, W. Faschinger, M.A. Herman: "Evaluation of growth temperature, refractive index, and layer thickness of thin ZnTe, MnTe, and CdTe films by in situ visible laser interferometry", Appl. Phys. Lett. 65, 998 (1994), ISSN-Number 0003-6951
ISSN:	0003-6951
DOI:	10.1063/1.112174
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	W. Faschinger, G.J. Glanner, M.A. Herman, Helmut Sitter
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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