Publikationsdetails

Zitat:	E. Abramof, Vaclav Holy, E. Koppensteiner, J. Kubena, A. Pesek, ""X-ray diffractometry of small defects in layered systems"" , 1993, ISSN: 0022-3727, V. Holy, J. Kubena, E. Abramof, A. Pesek, E. Koppensteiner: "X-ray diffractometry of small defects in layered systems", J. Phys. D: Appl. Phys. 26, A146 (1993), ISSN-Number 0022-3727
Original Titel:	"X-ray diffractometry of small defects in layered systems"
Sprache des Titels:	Englisch
Englischer Titel:	X-ray diffractometry of small defects in layered systems
Erscheinungsjahr:	1993
Notiz zum Zitat:	V. Holy, J. Kubena, E. Abramof, A. Pesek, E. Koppensteiner: "X-ray diffractometry of small defects in layered systems", J. Phys. D: Appl. Phys. 26, A146 (1993), ISSN-Number 0022-3727
ISSN:	0022-3727
DOI:	10.1088/0022-3727/26/4a/031
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	E. Abramof, Vaclav Holy, E. Koppensteiner, J. Kubena, A. Pesek
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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