Publikationsdetails

Zitat:	W. Helzel, G. Hendorfer, Wolfgang Jantsch, J. H. Li, K. Lischka, D. Schikora, T. Widmer, Z. Wilamowski, "Strain characterization of HG1-xFexSe-layers by electron spin resonance" , in Materials Science Forum, 1998, G. Hendorfer, W. Jantsch, W. Helzel, J.H. Li, Z. Wilamowski, T. Widmer, D. Schikora, K. Lischka: Strain characterization of HG1-xFexSe-layers by electron spin resonance, Mater. Sci. Forum, in print.
Original Titel:	Strain characterization of HG1-xFexSe-layers by electron spin resonance
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Materials Science Forum
Erscheinungsjahr:	1998
Notiz zum Zitat:	G. Hendorfer, W. Jantsch, W. Helzel, J.H. Li, Z. Wilamowski, T. Widmer, D. Schikora, K. Lischka: Strain characterization of HG1-xFexSe-layers by electron spin resonance, Mater. Sci. Forum, in print.
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	W. Helzel, G. Hendorfer, Wolfgang Jantsch, J. H. Li, K. Lischka, D. Schikora, T. Widmer, Z. Wilamowski
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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