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Publikationsdetails

Zitat: Günther Bauer, A. A. Darhuber, Vaclav Holy, Friedrich Schäffler, Julian Stangl, Stefan Zerlauth, ""MBE growth and structural characterization of Si1-yCy/Si1-xGex superlattices"" , 1997,
S. Zerlauth, J. Stangl, A.A. Darhuber, V. Holy, G. Bauer, F. Sch ffler: "MBE growth and structural characterization of Si1-yCy/Si1-xGex superlattices", J. Crystal Growth 175/176, 459-464 (1997), ISSN-Number 0022-0248
Original Titel: "MBE growth and structural characterization of Si1-yCy/Si1-xGex superlattices"
Sprache des Titels: Englisch
Englischer Titel: MBE growth and structural characterization of Si1-yCy/Si1-xGex superlattices
Erscheinungsjahr: 1997
Notiz zum Zitat: S. Zerlauth, J. Stangl, A.A. Darhuber, V. Holy, G. Bauer, F. Sch ffler: "MBE growth and structural characterization of Si1-yCy/Si1-xGex superlattices", J. Crystal Growth 175/176, 459-464 (1997), ISSN-Number 0022-0248
Publikationstyp: Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren: Günther Bauer, A. A. Darhuber, Vaclav Holy, Friedrich Schäffler, Julian Stangl, Stefan Zerlauth
Forschungseinheiten: Abteilung für Halbleiterphysik
Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik
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