Publikationsdetails

Zitat:	Jean Pierre Perin, Kurt Hingerl, "Occurrence and Significance of Evanescent Fields in Structured Samples" , in Applied Surface Science, Vol. 421, Part B, Seite(n) 738-743, 11-2017
Original Titel:	Occurrence and Significance of Evanescent Fields in Structured Samples
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Applied Surface Science
Volume:	421, Part B
Seitenreferenz:	738-743
Erscheinungsmonat:	11
Erscheinungsjahr:	2017
Anzahl der Seiten:	7
DOI:	10.1016/j.apsusc.2016.11.163
Reichweite:	international
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in SCI-Expanded-Zeitschrift
Autoren:	Jean Pierre Perin, Kurt Hingerl
Forschungseinheiten:	Zentrum für Oberflächen- und Nanoanalytik

Wissenschaftsgebiete:	Physik, Astronomie (ÖSTAT:103) Oberflächenphysik (ÖSTAT:103020) Optik (ÖSTAT:103021) Nanotechnologie (ÖSTAT:210006)

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