Publikationsdetails

Zitat:	G. Abstreiter, Günther Bauer, A. A. Darhuber, G. Grübel, Vaclav Holy, I. Kegel, Z. Kovats, Till Hartmut Metzger, P. Schittenhelm, Julian Stangl, "Structural characterization of self-assembled Ge dot mulilayers by x-ray diffraction and reflectivity methods" , in Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures , 1998, A.A. Darhuber, V. Holy, P. Schittenhelm, J. Stangl, I.Kegel, Z. Kovats, T.H. Metzger, G. Bauer, G. Abstreiter, G. Grübel: "Structural characterization of self-assembled Ge dot mulilayers by x-ray diffraction and reflectivity methods", Physica E, 2, 789-793 (1998), ISSN No. 1386-9477
Original Titel:	Structural characterization of self-assembled Ge dot mulilayers by x-ray diffraction and reflectivity methods
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures
Erscheinungsjahr:	1998
Notiz zum Zitat:	A.A. Darhuber, V. Holy, P. Schittenhelm, J. Stangl, I.Kegel, Z. Kovats, T.H. Metzger, G. Bauer, G. Abstreiter, G. Grübel: "Structural characterization of self-assembled Ge dot mulilayers by x-ray diffraction and reflectivity methods", Physica E, 2, 789-793 (1998), ISSN No. 1386-9477
DOI:	10.1016/s1386-9477(98)00161-1
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	G. Abstreiter, Günther Bauer, A. A. Darhuber, G. Grübel, Vaclav Holy, I. Kegel, Z. Kovats, Till Hartmut Metzger, P. Schittenhelm, Julian Stangl
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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