JKU Linz  
 
 


Publikationsdetails

Zitat: G. Abstreiter, Günther Bauer, A. A. Darhuber, Vaclav Holy, J. Nützel, Julian Stangl, ""X-ray reflectivity investigations of the interface morphology in strained SiGe/Si multilayers"" , 1998,
V. Holy, A.A. Darhuber, J. Stangl, G. Bauer, J. Nützel, G. Abstreiter: "X-ray reflectivity investigations of the interface morphology in strained SiGe/Si multilayers", Semicond. Sci. Technol., 13 1-9 (1998), ISSN No. 0268-1242
Original Titel: "X-ray reflectivity investigations of the interface morphology in strained SiGe/Si multilayers"
Sprache des Titels: Englisch
Englischer Titel: X-ray reflectivity investigations of the interface morphology in strained SiGe/Si multilayers
Erscheinungsjahr: 1998
Notiz zum Zitat: V. Holy, A.A. Darhuber, J. Stangl, G. Bauer, J. Nützel, G. Abstreiter: "X-ray reflectivity investigations of the interface morphology in strained SiGe/Si multilayers", Semicond. Sci. Technol., 13 1-9 (1998), ISSN No. 0268-1242
Publikationstyp: Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren: G. Abstreiter, Günther Bauer, A. A. Darhuber, Vaclav Holy, J. Nützel, Julian Stangl
Forschungseinheiten: Abteilung für Halbleiterphysik
Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik
fodok.jku.at Zum Seitenanfang

Benutzerbetreuung: Sandra Winzer, letzte Änderung:

Johannes Kepler Universität (JKU) Linz, Altenbergerstr. 69, A-4040 Linz, Austria
Telefon + 43 732 / 2468 - 9121, Fax + 43 732 / 2468 - 29121, Internet www.jku.at, Impressum