Publikationsdetails

Zitat:	Michael Mühlberger, Friedrich Schäffler, M. Schatzmayr, Christoph Schelling, E. Wachmann, ""A fully certified SiGe-BiCMOS process for ASICs and multiproduct wafers"" , 1999, "M. Schatzmayr, E. Wachmann, M. Mühlberger, C. Schelling, F. Schäffler: "A fully certified SiGe-BiCMOS process for ASICs and multiproduct wafers", Proc. Int. Semicond. Dev. Res. Symp., Charlottesville, VA, Dec. 1999, in print."
Original Titel:	"A fully certified SiGe-BiCMOS process for ASICs and multiproduct wafers"
Sprache des Titels:	Englisch
Erscheinungsjahr:	1999
Notiz zum Zitat:	"M. Schatzmayr, E. Wachmann, M. Mühlberger, C. Schelling, F. Schäffler: "A fully certified SiGe-BiCMOS process for ASICs and multiproduct wafers", Proc. Int. Semicond. Dev. Res. Symp., Charlottesville, VA, Dec. 1999, in print."
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Michael Mühlberger, Friedrich Schäffler, M. Schatzmayr, Christoph Schelling, E. Wachmann
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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